SNJ54ABT8652JT

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-CDIP

SNJ54ABT8652JT
部品番号:
SNJ54ABT8652JT
製品分類:
Texas Instruments
説明:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-CDIP
ROHS状態:
はい
PDF:
-

SNJ54ABT8652JT Specifications

実装タイプ:
Through Hole
部品ステータス:
Active
動作温度:
-55°C ~ 125°C
ビット数:
8
電源電圧:
4.5V ~ 5.5V
サプライヤーデバイスパッケージ:
28-CDIP
ロジックタイプ:
Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
パッケージ / ケース:
28-CDIP (0.300", 7.62mm)

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