SNJ54ABT8646FK

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-LCCC

SNJ54ABT8646FK
部品番号:
SNJ54ABT8646FK
製品分類:
Texas Instruments
説明:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-LCCC
ROHS状態:
はい
PDF:
資料

SNJ54ABT8646FK Specifications

部品ステータス:
Active
実装タイプ:
Surface Mount
動作温度:
-55°C ~ 125°C
ビット数:
8
電源電圧:
4.5V ~ 5.5V
ロジックタイプ:
Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
パッケージ / ケース:
28-CLCC
サプライヤーデバイスパッケージ:
28-LCCC (11.43x11.43)

Products You May Be Interested In