SNJ54BCT8244AJT

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-CDIP

SNJ54BCT8244AJT
部品番号:
SNJ54BCT8244AJT
製品分類:
Texas Instruments
説明:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-CDIP
ROHS状態:
はい
PDF:
資料

SNJ54BCT8244AJT Specifications

実装タイプ:
Through Hole
部品ステータス:
Active
動作温度:
-55°C ~ 125°C
ビット数:
8
電源電圧:
4.5V ~ 5.5V
サプライヤーデバイスパッケージ:
24-CDIP
パッケージ / ケース:
24-CDIP (0.300", 7.62mm)
ロジックタイプ:
Scan Test Device with Buffers

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