SN74ABT8952DL

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28BSSOP

SN74ABT8952DL
部品番号:
SN74ABT8952DL
製品分類:
Texas Instruments
説明:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28BSSOP
ROHS状態:
はい
PDF:
資料

SN74ABT8952DL Specifications

部品ステータス:
Obsolete
動作温度:
-40°C ~ 85°C
実装タイプ:
Surface Mount
ビット数:
8
電源電圧:
4.5V ~ 5.5V
ロジックタイプ:
Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
パッケージ / ケース:
28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
サプライヤーデバイスパッケージ:
28-BSSOP

Products You May Be Interested In