SN74ABT8652DWRG4

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-SOIC

SN74ABT8652DWRG4
部品番号:
SN74ABT8652DWRG4
製品分類:
Texas Instruments
説明:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-SOIC
ROHS状態:
はい
PDF:
資料

SN74ABT8652DWRG4 Specifications

部品ステータス:
Obsolete
動作温度:
-40°C ~ 85°C
実装タイプ:
Surface Mount
ビット数:
8
電源電圧:
4.5V ~ 5.5V
パッケージ / ケース:
28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
サプライヤーデバイスパッケージ:
28-SOIC
ロジックタイプ:
Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers

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