SNJ54ABT8652JT

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-CDIP

SNJ54ABT8652JT
Numéro de pièce :
SNJ54ABT8652JT
Catégorie de produit :
Texas Instruments
Description :
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-CDIP
Statut ROHS :
Oui
PDF :
-

SNJ54ABT8652JT Specifications

Type de montage:
Through Hole
Statut de la pièce:
Active
Température de fonctionnement:
-55°C ~ 125°C
Nombre de bits:
8
Tension d'alimentation:
4.5V ~ 5.5V
Fournisseur Dispositif Emballage:
28-CDIP
Type de logique:
Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Boîtier:
28-CDIP (0.300", 7.62mm)

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