SNJ54BCT8245AFK

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-LCCC

SNJ54BCT8245AFK
Numéro de pièce :
SNJ54BCT8245AFK
Catégorie de produit :
Texas Instruments
Description :
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-LCCC
Statut ROHS :
Oui
PDF :
Documents

SNJ54BCT8245AFK Specifications

Statut de la pièce:
Active
Type de montage:
Surface Mount
Température de fonctionnement:
-55°C ~ 125°C
Nombre de bits:
8
Tension d'alimentation:
4.5V ~ 5.5V
Type de logique:
Scan Test Device with Bus Transceivers
Boîtier:
28-CLCC
Fournisseur Dispositif Emballage:
28-LCCC (11.43x11.43)

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