SNJ54BCT8244AFK

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-LCCC

SNJ54BCT8244AFK
零件编号:
SNJ54BCT8244AFK
产品分类:
Texas Instruments
描述:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-LCCC
ROHS状态:
Yes
PDF:
资料

SNJ54BCT8244AFK 规格

零件状态:
Active
安装类型:
Surface Mount
工作温度:
-55°C ~ 125°C
位数:
8
电源电压:
4.5V ~ 5.5V
封装 / 外壳:
28-CLCC
逻辑类型:
Scan Test Device with Buffers
供应商器件封装:
28-LCCC (11.43x11.43)

您可能感兴趣的产品