SNJ54ABT8652JT

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-CDIP

SNJ54ABT8652JT
零件编号:
SNJ54ABT8652JT
产品分类:
Texas Instruments
描述:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-CDIP
ROHS状态:
Yes
PDF:
-

SNJ54ABT8652JT 规格

安装类型:
Through Hole
零件状态:
Active
工作温度:
-55°C ~ 125°C
位数:
8
电源电压:
4.5V ~ 5.5V
供应商器件封装:
28-CDIP
逻辑类型:
Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
封装 / 外壳:
28-CDIP (0.300", 7.62mm)

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