SN74LVTH18502APMG4
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
SN74LVTH18502APMG4 规格
零件状态：
Obsolete
工作温度：
-40°C ~ 85°C
安装类型：
Surface Mount
封装 / 外壳：
64-LQFP
供应商器件封装：
64-LQFP (10x10)
逻辑类型：
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
