SN74BCT8373ADWRG4

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOIC

SN74BCT8373ADWRG4
零件编号:
SN74BCT8373ADWRG4
产品分类:
Texas Instruments
描述:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOIC
ROHS状态:
Yes
PDF:
资料

SN74BCT8373ADWRG4 规格

零件状态:
Obsolete
安装类型:
Surface Mount
工作温度:
0°C ~ 70°C
位数:
8
电源电压:
4.5V ~ 5.5V
封装 / 外壳:
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
供应商器件封装:
24-SOIC
逻辑类型:
Scan Test Device with D-Type Latches

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