SN74ABT8952DL

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28BSSOP

SN74ABT8952DL
零件编号:
SN74ABT8952DL
产品分类:
Texas Instruments
描述:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28BSSOP
ROHS状态:
Yes
PDF:
资料

SN74ABT8952DL 规格

零件状态:
Obsolete
工作温度:
-40°C ~ 85°C
安装类型:
Surface Mount
位数:
8
电源电压:
4.5V ~ 5.5V
逻辑类型:
Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
封装 / 外壳:
28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
供应商器件封装:
28-BSSOP

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