5962-9172601MLA
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-CDIP
5962-9172601MLA 规格
安装类型：
Through Hole
零件状态：
Active
工作温度：
-55°C ~ 125°C
位数：
8
电源电压：
4.5V ~ 5.5V
供应商器件封装：
24-CDIP
等级：
Military
封装 / 外壳：
24-CDIP (0.300", 7.62mm)
逻辑类型：
Scan Test Device with Buffers
认证：
MIL-PRF-38535L
