SNJ54ABT8652JT

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-CDIP

SNJ54ABT8652JT
Номер детали:
SNJ54ABT8652JT
Категория продукта:
Texas Instruments
Описание:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-CDIP
Состояние ROHS:
Да
PDF:
-

SNJ54ABT8652JT Specifications

Тип монтажа:
Through Hole
Статус детали:
Active
Рабочая температура:
-55°C ~ 125°C
Количество битов:
8
Напряжение питания:
4.5V ~ 5.5V
Поставщик Устройство Корпус:
28-CDIP
Логический тип:
Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Корпус:
28-CDIP (0.300", 7.62mm)

Products You May Be Interested In