5962-9172601MLA
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-CDIP
5962-9172601MLA Specifications
Тип монтажа:
Through Hole
Статус детали:
Active
Рабочая температура:
-55°C ~ 125°C
Количество битов:
8
Напряжение питания:
4.5V ~ 5.5V
Поставщик Устройство Корпус:
24-CDIP
Класс:
Military
Корпус:
24-CDIP (0.300", 7.62mm)
Логический тип:
Scan Test Device with Buffers
Квалификация:
MIL-PRF-38535L