SNJ54BCT8244AJT

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-CDIP

SNJ54BCT8244AJT
부품 번호:
SNJ54BCT8244AJT
제품 분류:
Texas Instruments
설명:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-CDIP
ROHS 상태:
예스
PDF:
자료

SNJ54BCT8244AJT Specifications

장착 유형:
Through Hole
부품 상태:
Active
작동 온도:
-55°C ~ 125°C
비트 수:
8
공급 전압:
4.5V ~ 5.5V
공급업체 장치 패키지:
24-CDIP
패키지 / 케이스:
24-CDIP (0.300", 7.62mm)
논리 유형:
Scan Test Device with Buffers

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