SN74LVTH18502APMG4
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
SN74LVTH18502APMG4 Specifications
部品ステータス：
Obsolete
動作温度：
-40°C ~ 85°C
実装タイプ：
Surface Mount
パッケージ / ケース：
64-LQFP
サプライヤーデバイスパッケージ：
64-LQFP (10x10)
ロジックタイプ：
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
