SN74LVTH18502APMG4

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

SN74LVTH18502APMG4
Numéro de pièce :
SN74LVTH18502APMG4
Catégorie de produit :
Texas Instruments
Description :
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Statut ROHS :
Oui
PDF :
-

SN74LVTH18502APMG4 Specifications

Statut de la pièce:
Obsolete
Température de fonctionnement:
-40°C ~ 85°C
Type de montage:
Surface Mount
Boîtier:
64-LQFP
Fournisseur Dispositif Emballage:
64-LQFP (10x10)
Type de logique:
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

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